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蒸汽老化腐蚀试验机加速高温高湿老化箱半导体IC电镀芯片封装测试

AKS-ZQ-50蒸汽老化试验机

   

适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT-100),分辨率0.1,全自动安全保护装置。

主要参数

内部尺寸500×400×170(W×H×D)mm(内槽:W100*D280*H35MM*3) 

外部尺寸730×57500(W×H×D)mm   

内外箱材质SUS304#优质不锈钢板;

聚氨酯发泡

控制偏差±2.0度 ;

升温时间:大约40min;

控制方式:PID+SSR,数字式显示

计时器:1~9999H/M/S,附时到报警功能,时间到达后切断电源

设备电源即保护系统

电源1、电压 220V    2、电流 8A        3、功率 2.0KW     

超温保护温度失控时,超过超温保护设定温度时,自动停止加热供电,从而保护产品及机器的安全;

水位控制低水位报警功能

重量最大运输尺寸(不含包装):参见 “外形尺寸”

最大运输重量(不含包装):参见 “重量”

使用条件: 由用户保证下列各项条件

地面平整,通风良好

设备周围无强烈振动

设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘

设备周围留有适当的使用及维护空间,如下图所示:

顶部距离设备最高点:大于10cm

背面距离设备后面大于50cm

设备侧面距离墙大于50cm

环境条件温度:5℃~30℃

相对湿度:≤85%蒸汽老化试验箱主图1

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